高速电路中的电阻、电容的选型及应用

news2025/4/17 2:40:56

2.1 电阻的应用

2.1.1 与电阻相关的经典案例

如果说芯片是电路的骨架,那么电阻就是在芯片之间起连接作用的关节。电阻的阻值、布放位置等,对设计的成功起着至关重要的作用。

【案例2.1】串联电阻过大,导致板间告警失败

某产品由业务板和主控板构成。业务板上电源监控芯片的告警信号通过背板,输送到主控板,经主控板上逻辑芯片74LVTH16244处理后连接到主控板上CPU的中断信号。功能测试发现,强制将业务板被监控的一路电源拉地,CPU中断信号却不被使能。

【讨论】

该部分电路如下图所示。

考虑到单板的热插拔要求,信号和背板连接器之间都串有电阻。R1=1kΩ(kΩ:千欧姆),R2=100Ω(Ω:欧姆),R3=1kΩ。

进行强度测试时强制将被监控的电源接地,在业务板侧,测量业务板电源监控芯片输出的告警信号,可测得有效低电平(0V),但在主控板74LVTH16244侧,测得输入信号电平为1.7V,远超出低电平的输入门限。

74LVTH16244是高阻抗输入,因此3.3V将在三个电阻上分压。当电源监控芯片输出低电平0V时,经过分压后,在主控板上74LVTH16244的输入端分得电平为3.3V/2.1kΩ×1.1kΩ=1.7V,超出低电平门限。将R1的阻值更换为33Ω,告警时74LVTH16244的输入电平为(3.3V/1.133kΩx0.133kΩ=0.38V),仍在低电平门限之内,主控板能正确识别告警信息。

这个案例看似简单,但却暴露了一个多单板协同设计时很容易出现的问题。在本案例中,考虑到热插拔需要,单独看主控板和业务板的设计都不存在缺陷,但在协同工作时却暴露出问题。若一个产品由多块单板组成,设计者在进行单板与背板连接器接口电路设计时,必须充分考虑本单板与其他单板协同工作的问题。

需要提及的是,有些设计者会有疑问,将R1的阻值改为33Ω后,74LVTH16244的输入电平0.38V虽然处在输入信号的低电平门限范围内,但容量不是很大,能不能将R3的阻值增大,如果用4.7kΩ等,使得告警时74LVTH16244的输入电平进一步降低?答案是不能,这涉及逻辑器件实现电平翻转时的电流要求,将在第3章做详细分析。

【案例2.2】电阻额定功率不够造成的单板潜在缺陷

某单板上PHY芯片(以太网物理层芯片)的核心电源滤波电路设计如下图所示。

根据PHY芯片资料,该电源对噪声等于抗特别敏感,因此在设计中不仅采用了LC滤波电路,还在输入之后串联了一个1Ω的电阻R。LC滤波电路能滤除高频段噪声,而本电路中的电阻R不仅能衰减高频段噪声,而且能衰减低频段噪声,即能作为一个全频段衰减器。这种设计方法常用于对噪声特别敏感的电源,如时钟的电源等。

单板长时间运行发现,电阻R经常爆裂。

【讨论】

设计中选用的电阻R,尺寸为0402,额定功率为1/16W,核对PHY芯片资料,其内核电源最大功耗为300mW,即最大电流为200mA,而该电阻的最大通流能力仅62.5mA。当PHY全速工作时,电流将超过电阻的额定电流,造成电阻损坏。

类似的案例很多,设计者在电阻选型时,对阻值往往非常关注,却比较容易忽略对额定功率的审核。

本案例中,电阻的失效能通过实验室长时间测试反映出来,这是很值得庆幸的事情。若电阻的额定电流和实际工作电流比较接近,则可能构成产品的一个潜在缺陷。

【拓展】

在本案例中,电阻起的是全频段滤波的作用,在类似应用中,电阻还有一个作用是降低电路的品质因数Q。Q定义为回路发生谐振时,储存能量与一周期内消耗能量之比。在一个由R、L、C组成的串联电路中,总阻抗Z=R+1/(jω₀C)+jω₀L=R+j[ω₀L-1/(ω₀C)],回路谐振时,假定谐振频率为ω₀,则满足ω₀L=1/(ω₀C),此时电路的总阻抗达到最小值R,Q的值如下:
Q=ω₀L/R = 1/(ω₀CR)= 1/RX(L/C)^1/2   (2.1)

因此,回路发生谐振时,能量将集中于谐振频率点ω₀,根据Q值的不同,绘制回路幅频特性曲线如图2下图所示,图中|H(jω)|是电路传递函数的模,该值越接近1,表示电路越能无损耗地传递能量。从图中可以发现,Q值越大,能量越集中,表现为|H(jω)|的值越接近1,电路的损耗越小。

在储能电路中,Q值越大,意味着损耗越小;在选频电路中,Q值越大,意味着滤除其他频带信号的能力越强。因此在这些情况下,希望Q值越大越好。

但在电源或信号线路中,Q值越大,通常意味着性能越陡峭,越容易引发振铃等现象,信号通过这种回路后容易发生失真。因此在这种情况下,希望Q值小一些比较好。

在本例所示的原理图中,加入电阻R可降低Q值,以避免电源线路的振荡。

【案例2.3】电阻在时序设计中的妙用

某设计要求FPGA芯片兼容地支持两个厂家的存储器,经时序分析发现,这两个厂家的存储器虽然引脚的定义完全相同,但时序参数却略有差异。经时序计算后,B厂家存储器件的时钟信号线要比A厂家的长600mil(mil即米尔,是长度单位1mil=0.0254mm)。

【讨论】

一个设计(即同一份原理图和PCB)同时兼容两个厂家的器件,是电路设计中常见的需求,此时,QG电阻往往能起到极好的作用。

如下图所示,当采用A厂家存储器时,将R1加入物料清单中,而R2和R3不入物料清单;当采用B厂家存储器时,R2和R3加入物料清单,而R1不入物料清单。

PCB设计的注意事项有:第一,R2需要紧靠近R1的右边引脚放置,R3需要紧靠近R1的右边引脚放置,这样做的目的是减少在时钟信号线上可能出现的分叉(stub);第二,R2和R3之间的走线长度为600mil,以满足B厂家存储器的要求。

如果信号速率极高,短小的分叉将对信号完整性产生很大的影响。因此,当设计不允许信号线上存在分叉时,可以采用如图2.5所示的PCB设计。

在下图中的PCB上,将R2和R3各自的一个引脚焊盘与R1的两个引脚焊盘分别重合,R2和R3的另一个引脚通过600mil走线连接,从而可以完全避免在R1与R2、R3之间存在的分叉。采用这种方式,PCB上将出现设计规则检查(DRC)错误,可以将这个错误忽略,并通过产品工程师。

2.1.2 电阻应用要点

在高速电路设计中,对于电阻的应用,有四个关注点:

(1)电阻的阻值;
(2)电阻的精度;
(3)电阻的额定功率;
(4)电阻的精度。

其中,对于阻值,可依据电路的要求计算得到。有时候计算得到的阻值属于非常用阻值,从节省成本的角度考虑,建议采用常用阻值的电阻通过串联或并联的方式构成该阻值。例如,363Ω的阻值,可采用常用阻值330Ω和33Ω串联构成。这样做的目的,一方面可以构建比较精确的阻值,另一方面可以避免选用非常用的电阻器件。一般而言,越是非常用的器件,价格往往越高。

对于尺寸,需注意电阻的厂家资料上往往提供有两种尺寸代码,如下表所示。

上表中摘自某电阻的厂家资料。表中同一系列的电阻有两种尺寸代码,一种是EIA(美国电子工业协会)代码,另一种是公制代码。这两种代码都由4位数字构成,前两位表示电阻封装的长度,后两位表示宽度。EIA代码是英制代码,以英寸为单位,如0603的电阻,表示长度为0.06in(60mil),宽度为0.03in(30mil)。该电阻的公制代码为1608,表示长度为1.6mm,宽度为0.8mm。

额定功率和精度这两项参数比较容易被忽略。案例2.2就是与额定功率相关的案例,在针对额定功率的选型时,需要注意至少降额20%使用。

关于精度,最常见的应用是在电源芯片上。如下图所示为Linear公司的LDO电源芯片LT3080,利用外部的电阻RSET设定VOUT的值。

在这种应用中,电阻的精度直接决定了输出电压的精度,如果选择5%精度的电阻,则输出电源的电压波动范围将达到10%,显然无法满足设计的要求,因此必须选择1%精度的电阻,即使这样,仅仅因为该电阻的精度偏差,输出电源的电压偏差就达到了2%。

理解要点:
① QG电阻对高速电路设计有重要的意义。
② 在功耗高的路径上,如果串联了电阻,选型时需要考虑电阻的额定功率。
③ 当电阻用于设定器件的工作参数时,应选择高精度电阻。

2.2 电容的选型及应用

2.2.1 与电容相关的经典案例

电容对高速电路的贡献非常大,即便是在一块最普通的单板上,电容也随处可见。因此,电容是电路设计中最为常见的器件。但同时,电容也是最容易被忽视的器件。在设计中,设计者们往往知道需要放置电容,但对电容的选型却随心所欲。

事实证明,很多单板的设计失败,根本原因就在于电容。以下根据实际工作中的三个案例来说明电容选型的重要性。

【案例2-4】电容失效导致低温下硬盘停止工作

某单板设计以及功能验证完成后,在温箱里做-30℃的低温冷启动测试,发现单板启动到“硬盘检测”步骤时报错。在此条件下测试硬盘的5V电源,发现其纹波很大,达到800mV,使硬盘无法正常工作。设计人员重新审视原理图后发现,在硬盘的5V电源上除了若干小容量的陶瓷电容以外,大容量的电容只有一个,是47μF的铝电解电容,该电容的工作温度范围为-55℃~105℃。将此铝电解电容更换为同样容值的钽电容后,在-30℃做多次低温冷启动,单板工作正常。

【案例2.5】多次带电插拔子板导致母板上钽电容损坏

在调试中,对某单板上的子板做多次热插拔功能测试,发现插拔十多次就会导致母板上的一颗钽电容爆裂。该单板由母板和子板构成,两者通过连接器连接。由母板提供12V电源,经过连接器后送到子板,作为子板的工作电源,而该钽电容是母板上靠近连接器就近布放的。为12V电源滤波的电容,其标称值是100μF,额定电压16V。将该电容更换为同样容值的铝电解电容后,问题得到解决,强度测试通过。

【案例2.6】高速电路中电容应用问题导致CPU工作不稳定

某单板上,以太网数据包的处理工作由CPU负责完成。测试发现,在少量数据处理时,单板工作正常,而一旦出现大量数据处理,偶尔会发生丢数据包现象。以太网数据是通过板上FPGA进行预处理后再送到CPU,简化原理图如下图所示。

SYSCLK是CPU的系统时钟,频率为66MHz,由外部66MHz晶振提供。CLK为CPU和FPGA之间接口电路的工作时钟,频率为132MHz,由CPU内部锁相环对SYSCLK倍频产生。通过对CPU和FPGA之间的总线进行信号质量以及时序测试,大量数据处理时,借助示波器的快速采集功能,可以发现FPGA一侧的输入数据在某些瞬时无法满足时序要求,而大多数情况下却有充足的时序余量。重新分析时序,发现时序设计正确。用示波器单独测量CLK信号的完整性,打开快速采集功能,发现在某些瞬间,CLK信号的边沿会发生1/4周期的偏移。由此怀疑CPU内部的锁相环工作不稳定,测量给锁相环供电的VCC_PLL引脚,纹波达到50mV,纹波加上噪声达到70mV。该电路设计时,VCC_PLL信号上没有放有一个10μF、1206封装的陶瓷电容,改板后在VCC_PLL引脚附近就近增加两个0612封装的2.2μF陶瓷电容,和一个0402封装的0.1μF陶瓷电容,问题得到解决。

类似的案例还有很多,表面上看都不违背电路原理。案例2-4中的铝电解电容,标称温度范围能达到-55℃,为何在-30℃就会出现问题?案例2-5中的钽电容,额定电压16V,距离其工作电压12V还有33%的裕量,为何会出现爆裂?案例2-6中的电容失效,经过长时间、大量信号测试后,却发现根源竟是几个电容。在设计中,出现的问题却需要耗费大量的调试时间,那么在设计中,如何避免出现类似问题?本节内容将主要就电容的选型和应用要点展开讨论。

2.2.2 高速电路设计中电容的作用及分析


1. 高速电路设计中电容的作用

1)电容的作用之一——电荷缓冲池

在高速电路设计中,电源的负载是动态的,即高速运行器件的电流和功耗是不断变化的。为了保证器件工作的稳定,希望器件的工作电压不随电流和功耗的剧烈变化而同程度变化,即希望器件电压尽量稳定。在这种情况下,需要为器件提供一种缓冲池,以便当外界环境剧烈变化时,器件的工作电压能保持相对的稳定。电容的本质是储存电荷和释放电荷,当外界环境变化时,电容中的电荷能被迅速积累或释放。根据公式ΔU=Q/C ΔU表示电容两端电压的变化量,ΔQ表示电容两端电荷的变化量,C 为电容的容值),当外部环境的变化驱使器件的工作电压增加或减少时,电容能通过积累或者释放电荷以吸收这种变化,即将器件工作电压的变化转变为电容中电荷的变化,从而保持器件工作电压的稳定。因此,电容的作用之一就是电荷缓冲池,以使高速运行器件的工作电压保持稳定。

2)电容的作用之二——高频噪声的重要滤波器

对高速运行的电路而言,无时无刻不存在状态的转变。例如,信号的状态不断在1和0之间切换,器件的电流方向不断在输出和输入之间切换。这种高速的转变,将在电路上产生大量的噪声干扰。从频谱上看,这些干扰在相当大程度上处于有效信号的2次、3次等倍频频率,在电源传输路径上,需要将这些干扰滤波到相对稳定的地平面上,以免影响器件的工作。根据公式Z=1/(jωC),当频率较高时,电容表现为低阻抗,因此,可将电容作为高频噪声的重要滤波器。

3)电容的作用之三——实现交流耦合

当两个器件通过高速信号互连时,信号两端的器件可能对直流分量有不同的要求。例如,A 和 B 两个器件之间通过高速差分对信号互连,但 A 器件工作于1.8V,B 器件工作于3.3V,则 A 器件驱动的差分信号将携带1.8V直流分量,导致信号到达接收端 B 器件时无法被正确识别。反之,B 器件驱动的信号,到达 A 器件,其电平可能超过 A 器件所允许的最大输入电平。对于这种情况,需要将信号所携带的发送端的直流分量在达到接收端前,予以滤除,即隔离信号两边器件的直流分量。基于电容的通交流、阻直流的天然特性,电容具有这种隔离功能。因此,电容的作用之三是实现交流耦合(AC Couple),以实现对直流的隔离(DC Blocking)。


2. 电容等效电路的分析

如下图所示,在高速设计领域,电容器件并不是纯粹的电容,而是带有电阻、电感等成分的小电路。其中 ESL 由容器件的引脚电感和电容器件两极间等效电感串联而成,主要取决于封装;ESR 由电容器件的引脚电阻和电容器件两极间等效电阻构成,主要取决于电容工作温度、工作频率以及电容体本身的导线电阻等;Rleak 则取决于容器件本身特有的泄漏特性。可以认为,电容器件的特性同时取决于电容分量、ESL分量、ESR分量及泄漏特性。

ESR:Equivalent Series Resistance,等效串联电阻
ESL:Equivalent Series Inductance,等效串联电感
Rleak:并联泄漏电阻

1)电容分量

以一个案例来分析电容器件的电容分量对高速设计的影响。

【案例2.7】交流耦合电容选择不当引起数据帧出错

如下图所示,某产品主控板和业务板的FPGA通过背板上电平为LVPECL的差分对信号线互连,数据速率是800Mbps(Mbps:兆比特每秒),为隔离两板间直流偏置电平的相互影响,采用交流耦合,耦合电容选用0.01μF的陶瓷电容。测试发现,发送某些码型时,接收方经常检测到数据帧出错。

【讨论】

仔细研究出错的码型,发现它们都有一个共同的特性,即存在较长连续0和连续1比特位的情况。从逻辑设计工程师处获知,FPGA并没有对发送的数据帧进行扰码处理,而是将原始数据帧直接发送到外部信号线上。交流耦合电容在正常工作时,处于平衡的充放电状态,但原始数据帧中较长连0和连1比特位的出现,打破了这种平衡,使得信号通过判决门限的时间发生抖动,导致接收端判决出错。

在交流耦合中,电容串接在线路中,阻抗为1/jωC。容值越小的电容,对低频信号所表现出的阻抗越大,使低频信号的衰减越严重。

定义Tc为每比特位的数据周期,NUM为最大容许连0或连1比特位的数目,负载的阻抗为R(一般取50Ω),C为交流耦合电容容值。则有经验公式:

Cmin=7.8xNUMxTc/R(2.2)

本例中,Tc=1.25ns,R=50Ω,根据码型分析,本产品应用中可能出现的最大连0或连1比特位的长度为85,因此设定NUM=86,则交流耦合电容的最小取值要求为

Cmin=7.8x86x1.25ns/50Ω=16.77nF=0.01677μF

设计中,选用0.01μF的耦合电容,显然无法满足式(2.2),导致数据帧出错。

在设计时需注意,耦合电容取值也不能太大,如果容值太大,将无法满足高速信号变换的边沿斜率要求。在高速设计中,一般取耦合电容的容值为0.1μF,这样既可以满足数据帧中可能出现的长1长0情况,又能满足高速信号变换的要求。

2)ESL分量

如何利用封装信息获得大致的ESL值?ESL值取决于电容器件的类型和封装。在高速电路中,应选用ESL值小的贴片电容,因此仅以小尺寸贴片式的陶瓷电容作为示例,对于插孔式电容,如钽电解电容,其ESL值将比下表所列出的值大得多。从下表列出,随着封装的增大,ESL值将随之增大。比较特殊的是0612封装的贴片电容,其ESL值不仅远远小于相同外形尺寸的1206的ESL值,甚至小于目前业界尺寸最小的0201封装的ESL值。下图所示为1206和0612封装的电容的对比。

0612封装的电容,其长边为焊接边,连接PCB上的焊盘,相比1206封装,一方面可以有更大的、能直接和PCB焊盘贴合的面积;另一方面,其内部电容体到PCB焊盘的距离也更近,因此ESL值最小。就成本而言,在相同容值的条件下,0612封装比1206封装只是略微贵一些。

【案例2.8】利用0612封装的电容增强滤波性能

结合案例2-6,更正后的VCC_PLL滤波电路如下图所示。

 【讨论】

对VCC_PLL的滤波,使用了两个0612封装的滤波电容。一个就近CPU的VCC_PLL引脚放置,一个布放在VCC_PLL这条信号线(PCB上应加粗)离CPU引脚最远的位置。第一个电容的作用是滤除外界对CPU引脚的干扰,第二个电容的作用是消除CPU引脚对外界的影响。

3)ESR分量、泄漏特性及其他信息

以下讨论如何通过阅读电容的器件资料来获得信息。

下表为截取自某电容的器件资料。

 Size Code:厂家制定的尺寸编号。

Part Number:厂家制定的器件料号,采购时需要向厂家提供该参数。

Rated Voltage:额定电压,器件最高工作电压不超过该值。

ESR:在100~300kHz频带范围内,电容器内部串行电阻的最大值,该值随着工作频率而变化,因此需要根据实际应用的频带范围取值。如果应用的频带范围不在厂家提供的参数表中,需要向厂家咨询。

Rated Ripple Current:本例中的电容一般用在单板的总电源处,因此需要能承受上下电时大电流的冲击,此参数的值越大,表示承受大电流冲击的能力越好。

Tangent of loss angle:电容损耗角正切值。理想电容工作时,产生无功功率Q(无损耗),由于电容内部存在ESR及泄漏电流,实际应用中会产生一定的损耗功率P,定义tan δ=P/Q,tan δ就称为电容损耗角正切值。这个值越小,电容的功率损耗就越小。

Leakage Current:电容内部存在Rleak(见上图),因此存在泄漏通路,该参数用于定义流过电容的泄漏电流。

【案例2.9】LDO电源应用中的滤波电容ESR问题

某单板上FPGA供电选用Linear公司的LDO电源芯片LT1963,输出电压1.5V。LT1963的外部滤波电容选取10μF,尺寸为0805。类型为X5R的陶瓷电容。在单板的调试中发现,上电时,在LDO输出的1.5V电源上会出现一个瞬间高达1.8V的冲击。最初设计者认为是外部电容容量不够所致,增加一个相同的10μF陶瓷电容,现象依旧。仔细阅读LDO芯片资料,发现资料提到,该LDO需要利用外部电容的ESR作为高频补偿,ESR太小的电容不足以满足这个要求。资料要求外部电容的ESR不能超过3Ω,同时要求在电容值为10μF时,电容的ESR不可小于20mΩ。设计中使用的10μF陶瓷电容,其ESR在工作频段内仅为6mΩ,无法满足要求。将该电容替换为10μF的钽电容,其ESR在100kHz时为2Ω。替换后,1.5V电源上电正常。

【讨论】

提到电容的ESR,设计者往往想到的都是其负面影响。的确,较大的ESR具有两个不利因素。第一,根据电容损耗角正切值的定义,较大的ESR会产生较大的损耗功率P,如果P大到一定程度,且单板上该类型的电容器件数目较多时,形成预算就不得不考虑电容上的损耗,这往往是电子设计工程师最不希望看到的。第二,对于高速电路设计,往往希望电容的阻抗越小越好。这有两个含义,一方面,对于高频信号的交流耦合,电容串联在高频信号上,目的是隔断高频信号接收端的直流分量,同时又希望高频信号的衰减越小越好,如果电容的ESR较大,对于交流耦合的高频信号,相当于在信号中间串联了一个不小的电阻,将产生一定的衰减;另一方面,对于并联在电源和地之间的滤波电容,其作用是为噪声等于扰信号提供一个极低阻抗的分流路径,ESR较大的电容,显然无法起到这个作用。对于高速电路,即使ESR很小的电容,其ESR值仍不能满足低阻抗要求,因此,在重要的电源滤波电路上,往往需要并联多个电容,以最大程度地降低ESR。

不过情况也有例外,本例中电容的ESR就被用于LDO芯片的高频补偿。其原理在于,当LDO电源的负载电流发生瞬时变化时,利用ESR能立即产生电压波动,从而引起LDO电源反馈电路的动作,以便LDO电源针对负载变化做出快速的调整。

理解要点:

① 电容器件并不是纯粹的电容,而是带有ESR、ESL、Rleak等分量的小型电路。

② ESL取决于电容器的类型和封装,ESR取决于工作温度、频率、导线电阻等。

③ 大多数情况下,电容器的ESR越小,电路性能越好,但也有例外,设计时需要根据器件的要求进行选择。


3. 滤波电容阻抗随频率变化特性的分析

高速电路设计需要考虑高频和低频两种噪声,针对这两种噪声,应选取不同的滤波电容。“低频噪声选用大电容,高频噪声选用小电容”,这是许多工程师达成的共识。在实际工作中,这种说法并不完全正确。我们将就这点进行一些探讨,以便加深对电容选型的理解。

对电容器件而言,由于电容分量的存在,电容器的阻抗随着频率的升高而逐渐降低,这是电容器的本体属性;ESL分量则使阻抗随着频率的升高而逐渐增加。这两种作用正好相反。在电容分量和ESL分量的共同作用下,电容器的整体阻抗表现为,随着频率的升高,首先是电容分量起主导作用,使阻抗逐步变小,器件表现为电容的阻抗特性,滤波效果增强;当达到某一频点时发生谐振,此时电容分量和ESL分量对阻抗的效果正好抵消,在谐振点上,电容器阻抗最小,等于ESR分量;此后,随着频率继续升高,ESL分量起主导作用,使阻抗逐步增大,器件表现为电感的阻抗特性,滤波效果渐弱。滤波电容的作用机制是为噪声等于扰提供一条低阻抗回路,在噪声频率点上,要求滤波电容的阻抗较小,即当噪声频率落在谐振点附近时,滤波效果最好。如下图所示,谐振点由两条曲线交会而成,左边的曲线取决于电容器的容值C,右边的曲线取决于电容器的ESL。由谐振频率公式:F=ESLxC)^-1/2知,C和ESL越大,则谐振频率越低,即电容对高频干扰的滤波效果越差;C和ESL越小,谐振频率越高,越适于滤除高频干扰。

高速设计中,噪声等于扰往往不是处在一个频率点上,而是占据一段频带。在实际工作中,期望电路上每一处的噪声频带都得到准确定位并分类,这就要求设计者在电路设计中,利用多种不同的电容构造一个比较宽的低阻抗频带,以尽可能地覆盖噪声频带。

如下图所示,用三种电容并联,其效果是构成一段比较宽的低阻抗频带。

【案例2.10】高频电路中1μF+0.01μF是否能展宽低阻抗频带

某单板使用0603封装的1μF和0.01μF陶瓷电容各一个(下图),为CPU片内锁相环的电源滤波,设计者本意是利用两种不同的电容达到展宽低阻抗频带的效果,但是这样的设计是否能达到目的呢?

【讨论】

电容器的阻抗—频率曲线由其电容分量和ESL分量共同决定,本例中的两个电容容值不同,但类型和封装都相同,因此ESL相同,并联后的阻抗—频率曲线如下图所示,不能达到展宽低阻抗频带的目的。

针对本例,改进方法是,仍旧选择1μF和0.01μF的陶瓷电容,不过封装分别选取0603和0402,并联后的阻抗—频率曲线如下图所示。

此处需做一些补充,设计者们常喜欢把若干相同的电容并联在一起,共同为某电源滤波。这样做的目的,一方面是起到去耦电容的本地“小池塘”作用(参见2.2.4节),另一方面是为了在谐振点上得到更低的阻抗。需要说明的是,这样做,并没有展宽低阻抗频带。其阻抗—频率曲线如下图所示。

下面来分析“低频噪声选用大电容,高频噪声选用小电容”这种说法。结合电容器的阻抗—频率曲线图,如果仅考虑电容器的电容分量,这种说法是正确的,因为电容分量越大,谐振点的频率越低,适于滤除低频噪声,而电容分量越小,谐振点的频率越高,适于滤除高频噪声。但如果同时考虑ESL分量,则未必正确,参见之前图。0603封装的0.01μF电容,其阻抗—频率曲线完全被0603封装的1μF电容的曲线包含,并没有真正起到作用。

需要补充的是,当两种电容器的类型与容值相同,只有封装不同时,各自的阻抗—频率曲线将如何表现?以0603和0402的0.01μF陶瓷电容为例,其阻抗—频率曲线如下图所示。显然0402封装的阻抗—频率曲线能包含0603封装的曲线。如果设计中将这两种电容并联后为同一电源滤波,除了降低滤波电路的阻抗外,0603封装的电容其实没有

 理解要点:
① 电容器的阻抗—频率变化曲线是一种洛益曲线。曲线的左边取决于电容分量,右边取决于ESL分量。
② 滤波电容并联以展宽低阻抗频带时,不仅要考虑电容值搭配,还需要考虑封装搭配。多个同型号的电容并联时,虽不能展宽低阻抗频带,但可以减小谐振点处的阻抗。

2.2.3 高速电路设计常用电容及其应用要点

高速电路设计中最常用的电容有陶瓷电容(Ceramic Capacitor)、钽电容(Tantalum Capacitor)、铝电解电容(Aluminum Electrolytic Capacitor),以及最近开始流行的OSCON电容,如下图所示。四种常用电容中,只有陶瓷电容是非极性电容,其他三种都属于极性电容。

 1. 陶瓷电容及其应用要点

陶瓷电容是以陶瓷作为介质,在陶瓷的两面喷涂金属作为极板构成的,其优势是体积小、价格低、稳定性好,但容量小。目前常用的陶瓷电容,其容值小的可以到几十皮法,大的可以到几十微法。

平时经常提到的X7R、X5R、Y5V等,就是陶瓷电容。那么这些符号的含义是什么?如下表所示为陶瓷电容的符号表示法。

高速电路设计中,常用到的陶瓷电容种类有NPO、X7R、X5R和Y5V。它们的区别主要在于填充介质不同,从而引起温度、电压稳定性的不同。

NPO是温度补偿型陶瓷电容,是电容量最稳定的一种陶瓷电容。工作温度范围为-55℃~+125℃,可以认为在这个范围内,电容量基本保持不变。

X7R,表示工作温度范围为-55℃~+125℃,温度稳定性为+/-15%的陶瓷电容。

X5R,表示工作温度范围为-55℃~+85℃,温度稳定性为+/-15%的陶瓷电容。

Y5V,表示工作温度范围为-30℃~+85℃,温度稳定性为+22%~-82%的陶瓷电容。

在高频电路设计中,推荐选用NPO、X7R、X5R类型,尽量不选用Y5V类型。

【案例2.11】陶瓷电容选型错误导致单板丢数据包

某成熟的低端以太网交换机产品在进行降成本设计后,高温55℃下测试丢包率时发现丢数据包。该问题只发生在降成本设计后的批次上,之前的产品批次均能正常工作。查询改板记录,发现设计人员为了节省成本,将单板上为交换芯片供电的电源的10μF滤波电容的类型由X7R更改为Y5V,电容厂家是AVX。根据厂家提供的软件SpicCap,可以计算出在85℃时,电容容量仅为3.775μF,尚不到标称容量值的40%。而在环境温度55℃时,单板上该电容附近的温度达到了近80℃,因此实际有效电容值相对标称值大为减小,无法满足滤波的要求,造成电源上噪声过大。将电容类型更改为同容量的X7R后,问题得到解决。

【讨论】

对于X7R、X5R和Y5V这三种类型的陶瓷电容,标称的电容量值都是在环境温度25℃、工作电压等于0V时得到的值。如果环境温度和工作电压发生改变,则有效电容值将会发生变化。三者的区别在于变化程度的不同,其中Y5V这种类型的电容,变化最为剧烈。

利用AVX公司的SpicCap软件分析额定电压10V、标称值22μF的Y5V电容,理想状态(即工作电压0V,环境温度25℃)下,有效值为标称值(22μF)。如果保持其环境温度为25℃不变,仅改变工作电压,当工作电压为5V时,有效电容值为4.4μF;当工作电压达到额定电压10V时,有效电容值仅为2.2μF。如果保持其工作电压为理想的0V不变,仅改变环境温度,可以发现当环境温度相对于25℃升高和降低时,有效电容值都会减小,当环境温度达到85℃时,有效电容值为8.36μF,为-30℃时,有效电容值为2.7μF。

同样利用SpicCap软件分析X7R类型陶瓷电容的分析结果和X7R类似),可以发现设定工作电压为理想的0V不变,环境温度达到额定的-55℃和125℃时,有效电容值降到标称值的85%左右。而假定环境温度为理想25℃不变,工作电压达到额定电压时,有效电容值降到标称值的90%。

我们知道,单板工作时,电容的工作电压不可能是0V,附近的环境温度也不可能保持在25℃,因此对电容必须进行降额设计,对X7R和X5R应至少降额20%使用,而Y5V则不建议在高速电路和环境温度变化剧烈的情况下使用。

下图所示为不同类型电容的容值随温度变化的曲线示意图,希望通过下图,让大家深刻地理解电容降额的必要性。

贴片式陶瓷电容的ESR一般都比较小,在高频滤波中这是一个优势,但有些时候,这也是一个劣势,请参考案例2-9。

由于陶瓷电容容量一般都比较小,在高速电路的设计中,单独使用陶瓷电容滤波是不适宜的,必须同时搭配使用钽电容、铝电解电容或者OSCON等类型的电容。


2. 钽电容及其应用要点

钽电容使用金属钽作为介质,基于钽的固态特质,具有温度特性好、ESL值小、高频滤波性能好、体积小、节省PCB面积、容值较大等特点。因此钽电容一般被应用在需要大容量电容滤波的场合,如为CPU等高耗能器件滤波。

钽电容的缺点是耐电压和耐电流的能力较弱。一般要求钽电容的工作电压相对额定电压降额50%以上。遇到以下三种场合之一,钽电容的额定电压需降额70%以上使用:

(1)负载呈现较强的感性;
(2)串联电阻小;
(3)瞬变电流较大。

其原因在于,感性负载或较小的串联电阻会导致较大的瞬变电流,造成钽电容的金属钽介质被击穿。这使得在以下环节,钽电容的失效概率增大:ICT测试、老化测试、系统开机瞬间、单板热插拔瞬间。

 案例2-5中,在热插拔子板的过程中,会产生较大的瞬变电流,而连接器附近电子板电源滤波的钽电容电压降额只有25%,没有达到70%的要求,因此造成失效。

一般而言,容值越大的钽电容,其ESR值往往越大。

下图是摘取自AVX公司的钽电容器件资料。10μF的钽电容,其100kHz时的ESR最大值为1500mΩ;150μF的同系列钽电容,ESR最大值仅为125mΩ。

 根据电容的等效电路,ESR相当于电容器件的串联电阻,串联电阻越小越容易造成电容失效。因此在应用中需要注意,对于大容量的电容,更需要电压降额。从成本上来说,钽电容的价格正比于容量和额定电压的乘积,在使用大容量的钽电容时,还需要增加电压降额的比例,这势必造成成本的上升。因而在设计中,往往将若干小容量的钽电容并联以提升大容量钽电容相同的容量,这样做,一方面有利于设计的可靠性,一方面也有利于成本的降低。

需要注意,工作在瞬变电流较大的场合,钽电容并不一定会发生失效。钽电容本身有较好的自愈能力,只要外界环境的影响在一定范围之内,钽电容都能自我恢复。有时在单板的调试中会发现,单板突然莫名其妙地掉电,过一会儿后重新上电又能正常工作,有可能就是因为钽电容暂时失效所致。因此,为了保证单板长期稳定的工作,必须严格执行钽电容的电压降额,同时在设计时需注意,在涉及热插拔的电源滤波电路上,尽量避免使用钽电容。

【案例2-12】根据电路要求进行钽电容选型

某FPGA的I/O接口电源为1.8V,功耗0.9W,要求电源电压的波动不超过5%。电源完整性仿真表明,其主要噪声频段将集中在100kHz~5MHz,根据以上需求选择滤波电容的型号。

【讨论】

由于噪声频带集中在100kHz~5MHz,可初步判断需要选择钽电容和陶瓷电容配合滤波,钽电容主要滤除低频段噪声,陶瓷电容滤除高频段噪声。

该FPGA的I/O接口电源,最大电流为0.9W/1.8V=0.5A,假定其电流波动值ΔI不会超过最大电流的50%,即取ΔI=0.25A。

则该I/O接口电源的动态阻抗为Z=ΔV/ΔI=(1.8Vx5%)/0.25A=0.36Ω。

首先考虑低频段的滤波,选用钽电容,其ESL分量非常小,可以忽略,因此其阻抗主要由ESR和C构成,即ZCAP=|ESR+1/jωC|=(|ESR|^2+(1/ωC)^2)^1/2。

选择AVX公司的22μF电容TPSB226M600,根据图2.21所示器件资料,在100kHz时,其ESR最大值为0.6Ω,ZCAP=|0.36+1/(2x3.14x100x10^3x22x10^{-6})^2|^1/2=0.604Ω。

要求滤波电容的阻抗小于芯片动态阻抗,因此需两片22μF电容并联,并联后阻抗为0.302Ω,小于动态阻抗,所以可以满足低频段滤波的要求。

其次,对于高频段滤波,一般可以选用0402封装、X5R类型、1μF的陶瓷电容。

结论,针对本例需求,设计上应采用2片22μF钽电容TPSB226M600,与若干1μF陶瓷电容并联(建议一个I/O接口电源引脚放置一个1μF陶瓷电容),为FPGA的I/O接口电源滤波。

高速电路中,噪声频段分布得比较广泛,设计时需要将陶瓷电容和钽电容配合起来共同完成滤波功能。


3. 铝电解电容及其应用要点

铝电解电容使用电解液作为介质,外壳的铝制圆筒作为负极,内部插入一块金属板作为正极。铝电容容量大、耐压高,但温度稳定性差、精度差、高频滤波性能差,仅适用于低频滤波。

在对铝电容的介绍中提到,铝电容不适用于有较大瞬变电流的场合,而在这种场合下,就需要用到铝电解电容。例如,在单板的-48V缓启动电路上,就需要用到铝电解电容。

在应用中,铝电解电容的电压降额要求至少为20%。例如,在-48V缓启动电路的滤波电路中,要求铝电解电容的额定电压60V以上。

铝电解电容一般都是插装式,因此ESR、ESL值都比较大,同时由于采用液体作为介质,在极高温和极低温环境下,性能也极不稳定。

案例2-4的硬盘停止工作的问题,就是一个典型的铝电解电容在低温下性能不稳定的案例。查询铝电解电容器件资料如下表所示。

上表中,第二、三栏分别提供了该电容在20℃和-10℃的ESR值,可以看出,在-10℃,铝电解电容的ESR值相对常温增大了一倍,而该案例的测试在-30℃进行,ESR相比-10℃时又会增大很多。即在-30℃,铝电解电容的ESR值比常温下的值可能大好几倍,滤波性能大大降低。

从产品的长期稳定性来说,铝电解电容也可能成为隐患。因为随着产品使用时间的增加,铝电解电容内部的电解液将逐渐干涸,容量逐渐减小,ESR逐渐增大,滤波效果减弱。所以在高速电路设计的电容选型中,应尽量避免选择铝电解电容。


4. OSCON电容及其应用要点

严格地说,OSCON并不是一种电容的类型,而是SANYO公司的一种性能比较好的电解电容的品牌。

OSCON电容外形酷似铝电解电容,其优点在于,OSCON电容ESR较小、温度稳定性相对铝电解电容较好、价格相对钽电容较低。缺点在于对绝大多数OSCON电容而言,引脚都是插装形式,并且体积比较大。

在电路设计中,DC/DC电源的输入和输出部分往往需要布放大容量的钽电容,成本较高。在这种情况下,可以同样容值的OSCON电容取代,其成本仅为对应钽电容的几分之一。


5. 总结

本小节就高速电路设计中的常用电容类型做了详细介绍,各种电容均有自己的优势和劣势,没有哪一种类型能够完全取代其他类型,因此在设计中,设计者们需要注意结合各种电容自身的特点,配合使用,以获得最佳效果。

理解要点:
① 陶瓷电容体积小、价格低、稳定性好,但容量小,适用于高频滤波。
② 钽电容温度稳定性好,ESL值小,高频滤波性能好,体积小,能节省PCB面积,并且容量较大,但耐冲击电压和冲击电流的能力较弱。
③ 铝电解电容容量大,耐压高,但温度稳定性差,精度差,高频滤波性能差,仅适用于低频滤波。
④ 在电容应用中,应注意对阻抗—频率特性曲线的理解。

2.2.4 去耦电容和旁路电容

在技术资料上,经常可以看到去耦(decouple)电容和旁路(bypass)电容这两种名称。它们都不是电容的类型,而是设计者根据电容所起的作用不同而进行的划分。本小节不展开讲解这两种电容,只简要介绍其作用。

去耦电容,其作用是为保证器件稳定工作而给器件电源提供的本地“小池塘”。在高速运行的器件上,会不断产生迅速变化的电流需求,对于这种快速的需求,电源模块无法及时给器件提供电流补充,只能依靠器件附近的电容给予解决。可以把电容理解成平抑滤波的小池塘,一旦小池塘附近的庄稼缺水,能立刻从小池塘得到补充,而无需求助远方的水厂。去耦电容还有另一个作用,是为高速运行器件产生的高频噪声提供一条就近流入地平面的低阻抗路径,以避免这些干扰影响该电源的其他负载。旁路电容,其作用是为前级(如电源产生的高频噪声等干扰)提供一条流到地平面的低阻抗路径,以避免这些干扰影响正在高速工作的器件。
从以上描述可以看出,去耦电容和旁路电容没有本质的区别,从应用上说,依据公式Z=1/(2πFxC),其中F是器件工作频率,它们在高频下的作用都是为电路中的干扰提供一条流回地平面的低阻抗回路。

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