参考：

https://www.youtube.com/watch?v=UuDf3q5aBjM

https://zh.m.wikipedia.org/zh-cn/JTAG


浅谈dft之boundary scan

JTAG: Joint Test Action Group是开发IEEE 1149.1的工作组，1149.1定义了一个测试开发版上芯片的标准。现在变成了芯片的一个最常见的接口，用途很多比如FPGA/CPLD image下载，芯片测试和访问。

板子上一般是菊花链的形式连接

1. TDI（测试数据输入）
2. TDO（测试数据输出）
3. TCK（测试时钟）
4. TMS（测试模式选择）
5. TRST（测试复位）可选。

基本的想法是给每个chip加一个测试wrapper，这个wrapper遵守JTAG协议。这个Wrapper由以下三部分组成：

• 每个输入输出引脚都加一个边界扫描cell
• 有些额外的pin脚来连接这个wrapper
• wrapper里面有一些额外的寄存器

然后定义一些可以写到设备的指令。

这个TAP是指Test access port，TAP控制器是一个有16个状态的有限状态机。

 

SVF

为了更方便的利用JTAG1149.1去做测试，业界开发了SVF协议，serial vector format。它其实是一种描述jtag总线操作的一种语言。利用这种语言我们可以定义一种测试的流程，然后在整个芯片设计和量产的整个生命周期中去使用这个流程。从而方便验证芯片的功能，比如MBIST测试之类的。