如下图所示，GD32F303系列MCU在不同的ADC位宽情况下均具有对应的最高采样率，那这个最高采样率还可以提高吗？

答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持双ADC内核，分别为ADC0和ADC1，且双ADC可以支持同步模式，同步模式可以支持常规并行模式、常规快速交叉模式和常规慢速交叉模式，其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采样同一个通道，同步等效为提高ADC采样率。

下面以快速交叉模式为例来进行介绍：

以下为常规快速交叉模式工作示意图，常规触发后，ADC1立即启动采样，之后ADC0在7个ADC时钟周期后自动启动。

ADC0和ADC1采样转换的数据在快速交叉模式下会被自动放到32位的ADC0数据寄存器里，如下图所示，高16位存放是ADC1的采样数据，低16位存放的是ADC0的采样数据。这样当ADC1和ADC0采样完成后，使用ADC0对应的DMA通道搬运32位ADC0数据寄存器，就可以把ADC0和ADC1的采样数据进行搬运。

在快速交叉模式下，需要两个ADC的采样周期要小于7个ADC CLK，进而可以等效提高双倍ADC采样率。

另外慢速交叉模式，就是将两个ADC之间的启动间隔改成14个ADC CLK，其他工作原理一致。

以上即为本期讲解，如有建议或问题欢迎评论区讨论！