一、实验背景

栅格数据的分辨率特点决定了在生产栅格数据时，需要设定不同的空间分辨率值。高分辨率具有更丰富的信息量，基于已有的高分辨率栅格数据，能够运用算法生产有效的低分辨率栅格数据，满足分析要求。对于DEM数据，其连续的值域特征，更适合基于高分辨率DEM生成多分辨率的DEM数据。

本实验讲述使用地理信息系统软件基于高分辨率DEM数据生成低分辨率DEM数据的方法，通过特定的DEM生成算法，保证生成的多分辨率 DEM具有较高的准确性。读者通过实验练习，应能够对栅格数据的分辨率特点具有较好的认识，掌握快速生成多分辨率栅格数据的方法。另外，重采样是生成多分辨率栅格数据最快捷的方法，这里由于实验需要采用了以下方法。

二、实验数据

图层名称	格式	坐标系	说明
dem	GRID栅格	Krasovsky_1940_Transverse_Mercator	用于实验的原始数据

直接双击文件Ex26.mxd即可打开

三、实验步骤

方法一：由TIN生成DEM数据

（1）栅格转高程点

在ArcToolbox中，打开【Conversion】→【From Raster】→【Raster to Point】对话框，【Input raster】设置为“dem”，【Field】设置为“Value”,【Output points features 】设置为“points.shp”；点击【OK】，得到高程点数据。打开属性表，可查看到字段“grid_code”，该字段值表示该点处的高程值。

（2）创建TIN数据

打开【3D Analyst Tools】→【Data Management】→【TIN】→【Create TIN】对话框，【Output TIN】设置为“tin”，通过导入DEM图层的空间参考信息来设置【Coordinate System】项参数，【Input Feature Class】设置为“points”，【height_field】字段设置为“grid_code”，其余参数默认；点击【OK】，得到高程点构建的TIN数据。

（3）生成DEM数据

建好的TIN数据可以转换成不同分辨率的DEM数据。打开【3D Analyst Tools】→【Conversion】→【From TIN】→【TIN to Raster】对话框，【 Input TIN】设置为“tin”，【Output Raster】设置为“dem30”，【Sampling Distance】设置为“CELLSIZE 30”，其余参数默认；点击【OK】，得到30m分辨率的DEM数据。更改分辨率参数为1m，得到1m分辨率的DEM数据。注：采样距离选项中设置了生成的DEM数据分辨率。

方法二：生成多分率的DEM数据

在ArcToolbox中，打开【Data Management Tools】→【Raster】→【Raster Processing】→【Resample】对话框，【Input Raster】设置为“dem”，【Output Raster Dataset】设置为“dem30”，【Output Cell Size】设置为“30”，【Resampling Technique】选择“NEAREST（最临近分配法)”；点击【OK】，得到30m分辨率的 DEM数据。设置【Output Cell Size】为“1”。