参考资料:
内建自测试(Built-in Self-Test,简称BIST)详解_built in self test-CSDN博客
芯片测试术语 ,片内测试(BIST),ATE测试-CSDN博客
可能是DFT最全面的介绍--BIST - 知乎 (zhihu.com)
汽车功能安全--TC3xx LBIST触发时机讨论-CSDN博客
1. BIST定义:
BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路,用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。
2. BIST基本电路结构:
BIST 电路基本由三部分组成:
- TPG (test pattern generator)测试向量生成器
用来自动生成测试向量,灌入CUT(circuit under test)的输入引脚。
- ORA (output response analyzer)输出响应分析器
对待测电路的输出进行压缩对比,来确定电路是否有错误。
- BIST controller 内建自测试控制器
控制何时将什么样的数据用到被测电路上,控制被测电路的时钟并决定何时读取预期响应。
3.LBIST架构
TC3xx LBIST结构如下图所示:
它主要由PRPG(Pseudo-Random Pattern Generator)、Scan Chains、MISR(Multiple-Input Signature Register)、LBIST Controller组成。
LBIST执行时,首先PRPG使用LFSR(Linear Feedback Shift Register )生成伪随机测试向量,送入到扫描链进行测试,然后compactor将得到结果通过异或门进行压缩,产生最终MISR签名,送入到LBIST Controller的相关寄存器中,以便应用软件比较。