由于全球大多数细分市场的半导体工厂都满负荷运转，因此，生产力如今成为整个行业关注的重要问题也就不足为奇了。工厂经理会仔细监控关键绩效指标 (KPI)，以发现任何生产力下降的迹象，以便快速做出反应，找出并解决这些偏差的根本原因。与此同时，他们质疑生产力指标是否准确反映了工厂绩效，因为这些跟踪系统可能已经存在多年，但并未更新以利用全套可用生产力标准和相关数据收集基础设施。

如果您也是有此类疑问的人之一，那么这篇博文和底层演示文稿中传达的信息就是为您准备的。在其中，我们重点介绍了复杂制造环境中生产力管理的关键原则，描述了多年来为支持这一过程而定义和完善的一系列 SEMI 标准，确定了实施这些标准所需的各种数据源、收集方法和系统组件，并提供了几个具体示例来说明这些部分如何组合在一起。