Fiture的性能可以在测试前利用TRL校准件移除掉，但是TRL的步骤比较繁琐或者说TRL校准件（包含直通、反射、多条Line）很难设计(如果做到很高的频率对设计和加工制造的要求都很高)，此时可以选择只做一根2x Through（直通件），然后在SLOT校准的基础上，再利用仪器的De-embedding功能进行对Fiture的去嵌入。但是前提需要用软件（可以自己写，或者花钱买AFR\ISD等（如果买了上述软件，可以直接通过对测试数据做De-embedding后处理，不需要在使用矢网），AFR去嵌的2xThru要求在工作频段内插损和毁损至少要间隔5dB）将2x Through分成左右各一半。
以下介绍通过矢网来做De-embedding处理
区别一：TRL校准是前处理，在处理之前就需要做好；De-embedding是后处理，需要等测试结果出来后在做。
区别二：应用场景不同。TRL校准只适用于夹具相同的情况下；De-embedding可以用于夹具不相同的情况。
De-embedding和embedding在矢网和高端的示波器中都可以找到。De-embedding打开后就是把中间夹具的功能去嵌掉了。
以下介绍矢网(RS家的ZVA67为例)进行De-embedding的操作步骤
1.进行De-embedding前，需要做SLOT校准，将仪器和Cable的影响去除掉，可直接调用之前的存档覆盖。SLOT校准步骤参照以下链接SLOT校准-CSDN博客
2.Channel---->Mode---->Virtual Transform---->De-embedding at single Ended Port(这里事先将2x Through分成两半了)
3.首先为第一个端口调入2x Through的一半，称作1X Through（事实并不是，因为1X Through是包含两个SMA头的）
右下角Read Data From File读取文件2x Through的一半
4. Physical Port切换为2,在读取2x Through的另外一半，之后关闭当前界面。
5.以校准板为例，先接一根线。因为校准端面只是到Cable端面而已，现在把这个校准件当做一个DUT使用
6.不开启De-embedding的页面结果如下，Trace的IR为3.89dB@50GHz
7.接下来打开De-embedding功能，注意需要为每个端口都分别打开。以及Trace的IR变化和二者的对比结果。
