在半导体制造领域，砷是一种常见的杂质元素。然而，砷的存在不仅会严重影响芯片的性能和可靠性，还会对生产环境和人体健康构成威胁。通过使用高效的除砷树脂，可以有效地去除水中的砷元素。
然而，一旦除砷树脂受到污染，其吸附砷的能力将大大降低，甚至失效。污染后的树脂无法有效地去除水中的砷，导致水质不达标，影响后续生产流程。当树脂失去作用时，企业不得不更换新的树脂，这不仅增加了材料成本，还可能因为生产线停工而产生额外的损失。如果未能及时处理污染问题，可能会导致含砷废水排放至环境中，造成严重的生态破坏。
那么，有没有一种方法能让这些受污染的树脂“起死回生”呢?科海思技术团队近期进行了一项创新实验，旨在探索如何有效恢复受污染除砷树脂的功能，同时评估其对砷的吸附能力，取得了显著成效。
实验设计与步骤
在本次实验中，我们选择了三种受污染的除砷树脂样本进行实验：1号为受污染树脂，2号和3号为串联不同罐体盐再生处理后的树脂。我们对1号树脂用酸重新激活;2号和3号树脂直接测试对砷是否有吸附效果。
实验使用了亚克力玻璃柱、200mL层析柱、蠕动泵等设备，以及含砷废水、30%盐酸溶液等试剂。我们将30%盐酸溶液稀释为5%的稀盐酸溶液，然后将1号受污染的树脂浸泡在5%稀盐酸溶液中3小时后取出并冲洗干净，以期恢复其活性。随后，我们将2号和3号树脂分别装入2支树脂柱中，以及清洗后的200mL盐酸浸泡后的1号树脂装入200mL层析柱内，装柱完成后分别用清水清洗半小时。
清洗完成后，我们将含砷废水以10BV/h流速注入各树脂柱内，处理20min待出水稳定后收集产水检测砷含量。实验结果显示，1号污染树脂加入5%盐酸后溶液颜色瞬间变为棕黄色，浸泡3小时后树脂颜色变浅。出水砷检测结果为：污染过的1号树脂用5%盐酸溶液浸泡3小时后的产水砷浓度0.052mg/L,2号树脂产水砷浓度1.05mg/L,3号树脂产水砷浓度0.86mg/L。由检测结果可知树脂激活后对砷有较好的吸附效果。
图一 污染树脂
图二 盐酸浸泡
图三 浸泡3小时后
实验意义
科海思此次实验的成功，不仅解决了半导体行业中除砷树脂污染的问题，也为其他领域内的类似难题提供了宝贵的经验和解决方案。公司将继续坚持技术创新，致力于为客户提供更高效、更环保的技术服务，共同推动行业的可持续发展。作为一家专注于环保技术革新和应用的高新技术企业，科海思在重金属离子去除、垃圾渗滤液处理、煤化工废水治理等多个领域拥有深厚的技术积累和广泛的市场应用。未来，我们将继续拓展业务范围，深化技术研发，为建设美丽中国贡献力量。
