在当今高速发展的科技时代，半导体和集成电路(IC)已成为推动世界进步的核心驱动力。为了确保半导体/IC在性能、质量和可靠性方面达到最高标准，我们提供一套全面、创新的测试解决方案，以满足不断变化的市场需求。

利用我公司自主研发的ATECLOUD智能云测试平台，能够进行高精度的功能测试、性能测试、故障检测和分类等。我们的自动化测试平台能够大大提高测试效率和准确性，同时减少人工操作带来的误差。

我们深知每个客户都有其独特的需求和挑战。因此，测试解决方案可灵活定制，以满足各种应用场景和生产线的特定要求。无论是针对高性能计算、物联网、汽车电子还是其他领域，都能提供个性化的测试解决方案。

公司拥有一支经验丰富的专业团队，为客户提供从咨询、规划、实施到维护的全方位服务。无论您在测试过程中遇到任何问题，我们都会迅速响应并提供专业的技术支持。纳米软件致力于与全球各地的合作伙伴共同推动半导体/IC测试技术的进步。通过持续创新和研发，我们为客户提供更高效、更智能的测试解决方案，助力全球半导体产业的发展。

ATECLOUD-IC解决测试痛点

☁ 人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性;

☁ 测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求;

☁ 记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性;

☁ 长时间测试，工作量大，需要降低测试成本;

☁ 现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品;

☁ 需要满足特定的测试需求，如外购配件等;

☁ 需要符合自身芯片测试方法;

☁ 需要寻找国产化替代方案。

纳米软件半导体/芯片测试具体流程：

1.先需要将仪器和代测试芯片的接线连接好;

2.将使用到的硬件仪器通过USB/LAN/RS232等方式连接到纳米BOX上，之后通过网线和计算机连接;

3.在计算机上打开浏览器，进入ATECLOUD的网站并登陆;

4.在ATECLOUD平台上根据手动操作的步骤搭建一套相应的测试方案;

5.直接点击运行方案，等待测试完成后，在记录报告中查看测试的数据并导出测试报告;

6.在数据洞察界面查看所有测试数据的分析报告，图形展示等。

记录报告

历史测试列表展示：已完成的历史测试以列表形式展示，可按试验的关键信息、时间等条件进行查询。

详细历史试验信息：对每一次历史试验，可查看试验基本信息、试验时间信息、试验报警记录信息、试验数据监测信息，并进一步查询每个监测点的历史记录。