模拟芯片又称处理模拟信号的集成电路

模拟集成电路主要是指由电容、电阻、晶体管等组成的模拟电路集成在一起用来处理模拟信号的集成电路。有许多的模拟集成电路，如运算放大器、模拟乘法器、锁相环、电源管理芯片等。

模拟集成电路的主要构成电路有：放大器、滤波器、反馈电路、基准源电路、开关电容电路等。

功能测试，主要应用于板级测试，通过搭建一个模拟芯片工作环境，把芯片的接口都引出，检测芯片的功能，或在各种严苛环境下看芯片能否正常工作。

性能测试，应用于晶圆CP测试和封装后成品FT测试，前者在于了解芯片功能是否正常以及筛掉晶圆中的故障芯片，后者检查封装过程中是否有缺陷产生。

可靠性测试，有多种方法，包括温度循环测试、ESD静电测试、HAST测试等等。

ATECLOUD-IC针对模拟芯片测试有以下测试优势：

测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。

支持MCU、Analog I、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试

ns级高精度同步测试

人性化操作界面，可快速理解、快速上手

无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展

支持多工位高速并行测试

高效支持表征、功能评估和批量生产评估

已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展

具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用

ATECLOUD-IC解决测试痛点

人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性;

测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求;

记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性;

长时间测试，工作量大，需要降低测试成本;

现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品;

需要满足特定的测试需求，如外购配件等;

需要符合自身芯片测试方法;

需要寻找国产化替代方案。

数据洞察，发挥数据无限价值

数据权限：为不同管理层创建数据看板，高效生产;

自定义分析图表：甲方可自定义分析图表，多层级、多维度展现生产过程;

数据导入与对接：支持系统与外部数据导入，与其他系统数据对接;

大数据和云计算：充分利用大数据和云计算，发挥数据的无限价值;

生成图表：支持生成图表，方便数据分析。