本文框架
- 前言
- 1. What(RamTst相关概念)
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- 1.1 后台检测
- 1.2 前台检测
- 1.3 RamTst对应状态机
- 2.How?
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- 2.1 接口调用
- 2.2 配置开发
- 2.3 测试模式选择
前言
在本系列笔者将结合工作中对功能安全实战部分的开发经验进一步介绍常用，包括Memory(Flash，Ram)失效检测，程序运行时序时间检测，及功能安全软件相关的功能安全分析，DFA分析方法等进行介绍。此外，如您对汽车电子底层相关Autosar全模块实战感兴趣，可参读专栏：AutoSar实战进阶系列导读
本篇先介绍下Memory检测的Ram检测部分，基本框架如下:
1. What(RamTst相关概念)
RamTst是对MCU中RAM Cell物理健康状况的检查，并不是为了测试RAM中存储的内容。
在Ram检测中存在不同的算法，对应了不同的覆盖率，在做安全分析时，需要确定所需达到的覆盖率要求（Low (60%), Medium (90%) and High (99%)）
校验方式根据调用方式可以分为前台测试与后台测试，该特性与FlsTst相同，具体介绍如下：
1.1 后台检测
通过OS周期调用接口RamTst_MainFunc
