目录

概要

1 开关和键盘的分类

2 开关和键盘失效率的计算

2.1 Switches and keyboards

2.1.1 Base失效率

2.1.2 接触数量

2.1.3 温度循环De-rating系数

---

概要

IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十五章开关和键盘的失效率预测模型。

1 开关和键盘的分类

在IEC TR 62380中开关和键盘只分为一类：

• Switches and keyboards

2 开关和键盘失效率的计算

2.1 Switches and keyboards

Switches and keyboards失效率的预测模型：

式中：

λ：失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）；

λ0：base失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）；

N：接触的数量；

(πn)i: 与第i阶段封装、年热循环次数相关的影响系数；

 ΔT：任务剖面第i阶段的温变幅值。

2.1.1 Base失效率

根据元器件的类型，选取base失效率：

2.1.2 接触数量

根据元器件的类型选择接触数量的数值计算方式：

2.1.3 温度循环De-rating系数

根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：

温度循环De-rating系数的计算参考：

ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用