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接触式测量（Contact Measurement）：
- 坐标测量机（CMM, Coordinate Measuring Machine）：通过探针直接接触物体表面获取三维坐标数据。优点是精度高，但速度慢，对软质材料测量效果不佳，且存在探头磨损问题。
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非接触式测量（Non-contact Measurement）：
- 激光三角法（Triangulation）：使用激光扫描物体表面，通过接收反射光来测量三维坐标。速度快，精度高，但对物体表面特性有限制，如垂直壁面、镜面反射表面等难以测量。
- 干涉法（Interferometry）：基于光波干涉原理，适用于测量变形、形状和折射率变化。分辨率高，但测量系统稳定性受环境因素影响大。
- 结构光法（Structured Light）：投射编码光栅或条纹到物体表面，通过图像分析恢复面形。适用于全场测量，但对物体表面特性和遮挡情况敏感。
- 时间飞行法（Time-of-Flight, ToF）：基于激光或光脉冲反射时间测量距离。速度快，适用于大型物体测量，但精度相对较低。
- 光学测量（Optical Measurement）：使用光学图像作为检测和传递信息的手段，包括立体视觉、干涉测量等。适用于复杂表面测量，但对环境光强和背景噪声敏感。
- 声纳（Sonar）：使用声波测量物体距离，适用于水下或特殊环境下的测量。
- 磁学方法（Magnetic）：基于磁场原理的测量方法，如磁共振成像（MRI）。
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特殊应用测量：
- 计算机断层扫描（CT, Computed Tomography）：通过X射线或γ射线穿透物体，重建内部结构。适用于内部结构复杂的物体测量。
- 电阻层析成像（ERT, Electrical Resistance Tomography）：通过测量电阻分布来重建物体内部结构。
各种方法的选择取决于测量对象的特性、测量精度要求、测量速度需求以及成本考虑。随着技术的发展，这些方法也在不断地融合和优化，以满足更广泛的工业和科研需求。
