作者：小柠檬 | 来源：3DCV

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结构光三维测量技术在工业自动化、逆向工程和图形学领域越来越受欢迎。然而，现有的测量系统在成像过程中存在不完美，会导致在不连续边缘周围出现测量误差。这种误差被称为“不连续引起的测量伪影”（DMA）。现有的DMA减小方法需要准确检测所有边缘，但在边缘模糊的情况下很难实现。同时，误差区域中的校正数据严重依赖于其最近的未受影响区域的数据，这在某些情况下使得校正数据不可靠。因此，本文提出了一种基于反卷积方法的灵活方法来解决上述两个问题。

原文链接：基于反卷积方法的重大突破：结构光系统中的测量误差降低3倍