台式扫描电镜（SEM）是一种利用电子束扫描样品表面，通过检测样品反射或发射的次级电子、背散射电子、X 射线等信号，来获取样品的形貌、结构、组成和分布等信息的仪器。台式扫描电镜具有体积小、操作简单、样品制备方便、分辨率高、成本低等优点，广泛应用于材料科学、生命科学、环境科学、工业检测等领域。

台式扫描电镜中的扫描速度和扫描模式是影响图像质量和分析效果的重要参数，需要根据实验目的和样品特性进行合理的选择。扫描速度是指电子束在样品表面扫描的速度，通常用扫描线数或扫描时间来表示。扫描模式是指电子束在样品表面扫描的方式，通常有点扫、线扫和面扫三种模式。点扫是指电子束在样品表面的一个固定位置进行扫描，线扫是指电子束在样品表面的一条直线上进行扫描，面扫是指电子束在样品表面的一个区域内进行扫描。

台式扫描电镜中的扫描速度和扫描模式的选择取决于您的实验目的和样品特性。一般来说，有以下几点建议：

扫描速度：高速扫描适用于快速获取样品的大致形貌和结构信息，低速扫描适用于获取高分辨率和高信噪比的图像。

扫描模式：点扫适用于对单个位置进行元素分析，线扫适用于对一条线上的元素分布进行分析，面扫适用于对一个区域的元素映射进行分析。

泽攸科技ZEM18台式扫描电镜

原文来源：https://www.zeptools.cn/news_detail/134.html