GJB 128B-2021标准版，下载
一、 概述
GJB 128B-2021半导体分立器件试验方法已于2022年3月1日实施，相对现行标准，新版标准对部分内容进行了变更。针对我司VDMOS产品涉及的各种方法，我司对新标准与旧标准的差异进行了分析。
二、 范围
本文首先将各个方法主要变更内容进行了列举，特别是涉及判据和极限的关键数据进行了详细分析。然后根据VDMOS产品特性，将标准变更对VDMOS产品产生的影响进行了初步评价。由于部分内容变更可能涉及印刷错误或异议，同时也将相关内容与新版本美军标进行对比印证。本文将异议部分使用红色字体进行标注。主要内容概要见下表：
三、 变化内容详解
（1） 一般要求部分
该章节主要对细节进行了增加和修正。详细修订细节如下：
- 4.1试验条件部分增加了“规定的试验温度高于或低于环境温度时，温度允许误差为±3%”
- 仲裁类试验相对湿度从48%~52%调整为45%~55%。
- 试验标准大气条件调整为2000系列机械试验温度标准25℃±10℃，不再进行湿度和气压控制。
- 环境试验箱内最低温度偏差从“ 8℃ 0 和 8% 0 以大者为准”调整为“不超过8℃”。（美军标750F CHG2-2016版本仍为+8℃ -0℃和+8% -0%）
- 删除了GJB128A-97校准要求中准确度要求和计量间隔时间要求4.1.4 a和b（美军标750F CHG2-2016版本4.1.5仍保留该项要求，建议恢复）。
- 4.1.4 a 偏置条件应未规定限制条件（应规定除击穿电压外，因为其要求更高）。
- 4.2取向部分的指示图1。待改善，应标注实际坐标轴，而不是指示面。图1和图2中Y2方向标识错误未进行修正。该图像不仅与现行美军标不一致，与GJB548B也不一致。经调查该图与MIL-STD-750 D中插图基本信息保持一致，后美军标修订该处错误。美军标更改对比如下：
GJB 128图例
MIL-750图例
- 4.3.3.2新增了稳态直流测试热平衡条件判定准则。
- 4.3.3.3新增了脉冲直流测试热平衡条件判定准则。
- 4.3.8.2静电防护执行标准号由GJB 1649改为GJB/Z 105 和GJB 3007。
- 4.7 ~4.10章节新增破坏性和非破坏试验清单和详细要求，新增实验室资质和环保要求。
变更内容对VDMOS产品实际进行试验过程影响不大，部分要求相对于GJB128A-97来说相对放宽了。
