电镜是指利用电子束取代可见光束来观察和成像的仪器,包括扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)和透射扫描电镜(STEM)等。它们的检测标准和方法各有不同,具体如下:
1、扫描电镜(SEM)
检测标准:
- 分辨率:通常在几纳米到几十纳米
- 放大倍率:20倍到约30万倍
- 探测器:二次电子探测器、背散射电子探测器等
检测方法:
- 准备样品,通常需要导电处理
- 在真空条件下,使用电子束扫描样品表面
- 根据二次电子、背散射电子等信号形成图像
2、透射电镜(TEM)
检测标准:
- 分辨率:可达于0.1纳米
- 加速电压:通常100-300kV
- 样品厚度:一般小于100纳米
检测方法:
- 制备超薄样品
- 在真空条件下,电子束透射通过样品
- 根据透射电子信号形成明视野、暗视野等图像
3、透射扫描电镜(STEM)
检测标准:
- 聚焦电子束直径:通常0.05-0.3纳米
- 检测器:暗视场环阻、HAADF等
检测方法:
- 准备薄样品
- 聚焦电子束扫描样品
- 根据散射电子信号形成图像,如Z-constrast图像
除了上述标准检测外,电镜还可以结合其他技术进行元素分析、晶体结构分析等,如能量dispersive X-ray(EDX)、电子能量损失能谱(EELS)、电子衍射(ED)等。不同检测目的和对象,需要选择合适的电镜类型和操作参数。
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